全自動(dòng)介質(zhì)損耗介電常數(shù)測(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述：全自動(dòng)介質(zhì)損耗介電常數(shù)測(cè)試儀由高頻阻抗分析儀、測(cè)試裝置，標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成，能對(duì)絕緣材料進(jìn)行高低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測(cè)試。它符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

產(chǎn)品型號(hào)：HJS
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2026-07-06
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全自動(dòng)介質(zhì)損耗介電常數(shù)測(cè)試儀

產(chǎn)品用途 Product Usage

全自動(dòng)介質(zhì)損耗介電常數(shù)測(cè)試儀由高頻阻抗分析儀、測(cè)試裝置，標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成，能對(duì)絕緣材料進(jìn)行高低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測(cè)試。它符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

全自動(dòng)介質(zhì)損耗介電常數(shù)測(cè)試儀工作頻率范圍是20Hz～1Mhz 2Mhz 5Mhz, 三種選項(xiàng)它能完成工作頻率內(nèi)對(duì)絕緣材料的相對(duì)介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測(cè)試。

全自動(dòng)介質(zhì)損耗介電常數(shù)測(cè)試儀中測(cè)試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品，配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過(guò)被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數(shù)可以直接不用人工計(jì)算得到。

概述

HJS-S是具有多種功能和更高測(cè)試頻率的新型阻抗分析儀，體積小，緊湊便攜，便于上架使用。本系列儀器基本精度為0.05%，測(cè)試頻率最高2MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便簡(jiǎn)潔。集成了變壓器測(cè)試功能、平衡測(cè)試功能,提高了測(cè)試效率。儀器提供了豐富的接口，能滿足自動(dòng)分選測(cè)試，數(shù)據(jù)傳輸和保存的各種要求。

固體執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) GB/T 1409-2006（測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法））液體

優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)Advantages and Characteristics

1、可直接得到介電常數(shù)和介質(zhì)損耗不用人工計(jì)算

2、可測(cè)試電阻

3、 4.3寸TFT液晶顯示

4、中英文可選操作界面

5、最高5MHz的測(cè)試頻率

6、平衡測(cè)試功能

7、變壓器參數(shù)測(cè)試功能

8、最高測(cè)試速度:13ms/次

9、電壓或電流的自動(dòng)電平調(diào)整（ALC）功能

10、 V、I 測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能

11、內(nèi)部自帶直流偏置源

12、可外接大電流直流偏置源

13、 10點(diǎn)列表掃描測(cè)試功能

14、 30Ω、50Ω、100Ω可選內(nèi)阻

15、內(nèi)建比較器，10檔分選和計(jì)數(shù)功能

16、內(nèi)部文件存儲(chǔ)和外部U盤(pán)文件保存

17、測(cè)量數(shù)據(jù)可直接保存到U盤(pán)

18、 RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口

19、高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值精度和重復(fù)性。

20、介電常數(shù)測(cè)量范圍可達(dá)1～105

ε 和 D性能：
固體絕緣材料測(cè)試頻率20Hz～2MHz的ε和D變化的測(cè)試。
ε和D測(cè)量范圍	ε：1～105，D：0.1～0.00005，
ε和D測(cè)量精度（10kHz）	ε：±2% ， D：±5%±0.0001
測(cè)試參數(shù)	C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
測(cè)試頻率	20 Hz～2MHz,10mHz步進(jìn)
測(cè)試信號(hào)電	f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）平 :f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)
輸出阻抗	10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本準(zhǔn)確度	0.1%
顯示范圍	L 0.0001 uH ～ 9.9999kH C :0.0001 pF ～ 9.9999F R,X,Z,DCR : 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
顯示范圍	Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S D : 0.0001 ～ 9.9999 Q : 0.0001 ～ 99999 θ : -179.99°～ 179.99°
測(cè)量速度	快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）
中速	25次/s, 慢速: 5次/s
校準(zhǔn)功能	開(kāi)路 / 短路點(diǎn)頻、掃頻清零，負(fù)載校準(zhǔn)
等效方式	串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式
量程方式	自動(dòng), 保持
顯示方式	直讀, Δ, Δ%
觸發(fā)方式	內(nèi)部, 手動(dòng), 外部, 總線
內(nèi)部直流偏	電壓模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jìn)
置源	電流模式（內(nèi)阻為50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn)
比較器功能	10檔分選及計(jì)數(shù)功能
顯示器	320×240點(diǎn)陣圖形LCD顯示
存儲(chǔ)器	可保存20組儀器設(shè)定值
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
接口	LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（選件）
工作頻率范圍	20Hz～2MHz 數(shù)字合成，
精度	±0.02%
電容測(cè)量范圍	0.00001pF～9.99999F 六位數(shù)顯
電容測(cè)量基本誤差	±0.05%
損耗因素D值范圍	0.00001～9.99999 六位數(shù)顯
介電常數(shù)測(cè)試裝置（含保護(hù)電極）	精密介電常數(shù)測(cè)試裝置提供測(cè)試電極，能對(duì)直徑φ10～56mm，厚度<10mm的試樣精確測(cè)量。
它針對(duì)不同試樣可設(shè)置為接觸電極法，薄膜電極法和非接觸法三種，以適應(yīng)軟材料，表面不平整和薄膜試樣測(cè)試。
微分頭分辨率	10μm
最高耐壓	±42Vp（AC+DC）
電纜長(zhǎng)度設(shè)置	1m
最高使用頻率	5MHz